納米粒度分析儀：
N4Plus是采用激光法測超細顆粒的儀器，激光法測顆粒度，是基于ISO13321標準分析顆粒粒度的一種方法，即利用運動著的顆粒所產生的動態 的散射光，通過光子相關光譜分析法PCS（Photon Correlation Spectroscopy）分析納米顆粒粒度，其特點是快速、準確、分辨率高。

      納米粒度分析儀

           納米粒度分析儀技術參數

           1.測量范圍： 3-3,000nm
           2.測量時間：30-180秒
           3.重現性： 優于3%CV
           4.可區別平均粒度比大于2.5的兩個峰
           5.精度： 2－5%

          主要特點

         1.是采用六個角度（在0-900C角度范圍）檢測的儀器
         2.*的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型

Zeta電位和分子量分析儀的技術參數

1、粒徑測量
大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm * 
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v * 
檢測角度: 175o 和 12.8o 
小樣品量: 12 μl 

2、Zeta電位測量 
Zeta電位范圍: 無實際限制 
電泳遷移率: 0 – 無實際上限 
大樣品電導率: 200mS/cm 
大樣品濃度: 40% w/v 
小樣品量: 150 μl 
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動態光散射） 
980 - 2 ×10⁷ Da * （靜態光散射） 
小樣品量  12 μl

* 取決于樣品

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